본문 바로가기

Products/Tabletop SEM

주사전자현미경으로 얻을 수 있는 정보

안녕하세요^^, 최고의 검사 장비회사 쎄크입니다.

그동안 주사전자현미경의 특징이나 활용 예등 여러 정보에 대해 알려드렸 었는데요!

오늘은 주사전자현미경(SEM) 으로 얻을 수 있는 정보에 대해 알려드리려고 해요^^

 

 

 

 

주사전자현미경으로 재료의 표면형상, 적층 결함, 계면 등을 직접 관찰함에 따라

이들이 재료의 여러 성질들에 미치는 영향을 정확히 규명할 수 있습니다.

전자회절로써 결정의 결자상수와 대칭성 등을 규명할 수 있고, 분석전자현미경으로

운자의 종류와 양을 분석할 수 있습니다.

그리고  고 분해능 전자현미경으로 원자의 배열을 관찰할 수 있습니다.

이들 주사전자현미경 기술을 이용하면 원자의 종류와 위치를 원자 규모로 규명할 수

있고 따라서 이들이 재료의 성질에 미치는 영향을 규명하여 새로운 재료의 개발에

이용 할 수 있게됩니다.

 

 

 

 

주사전자현미경으로 얻을 수 있는 정보


 

- Topography(물체의 표면의 형상을 관찰)

   물체의 미세구조와 hardness, refiectivity 등의 물성과 연관성을 규명할 수 있다.

 

- Morphology(물체를 구성하는 입자들의 형상과 크기 관찰)

   ductility, strength,reactivity등의 물성과의 직접적인 관계를 알 수 있다.

 

 

 

- Composition(물체를 구성하는 원소와 화합물의 종류 및 상대적인 양 분석)

   분광학에 의한 전자아 시편이 상호 작용하여 생기는 X-선이나 전자를 분석하여

   시편 내에 존재하는 원자의 종류와 양을 알아내는 방법으로 에너지 분산 X-선

   분광학과 전자 에너지 손실 분광이 있다.

   즉, 분광학을 이용한 재료표면의 원소의 종류와 양과 같은 화학적 조성정보를

   제공한다. 녹는점, 반응성, 경도 등 재료물성과 조성과의 관계를 알 수 있다.

 

- Crystallography(재료 내 원자들의 배열상태 분석)

   재료의 여러 성질들은 니세 구조, 즉 원자의 종류와 위치에 큰 영향을 받는다.

   전자와 시편 내의 원자 간의 간섭을 이용하여 원자의 위치 및 배열에 대한

   정보를 얻는 것이다. 회절 패턴을 이용한 결정 구조정보와 같은 역공간의 정보를

   제공한다. conductivity, electrical properties, strength 등의 재료 고유 물성과

   원자배열과의 관계를 연구할 수 있다.

 

 

지금까지 주사전자현미경으로 얻을 수 있는 정보에 대해 알려드렸는데요!

쎄크 홈페이지를 방문하시면 다양한 종류의 주사전자현미경을 만나보실 수 있으니

많은 접속 부탁드리겠습니다.