엑스레이검사기 X-eye NF120B 모델 안내

 

 

(주)쎄크 엑스레이검사기 X-eye NF120B 모델을 소개합니다.

---

 

최근 여러 가지 산업이 발달하면서 여러 기업에서는 산업용 장치 불량을 검사하기 위한

엑스레이 검사기 사용률이 높아지고 있습니다.

오늘은 기업 내 산업 기기의 불량을 검사하는 엑스레이검사기 X-eye NF120B 모델을 소개합니다.

 

 

 

 

 

 

 

● 2kV Nano-focus Open Tube 탑재(400nm Focal Spot Size)

● Max. 300mm(Φ) Table Size

● Wafer Bump Auto Inspection 기능 탑재

● 3D CT 옵션 - GPU 기반 빠른 Recon (<10sec)

● Void, Short, Bridge, 과납, 소납, 자동검출

 

 

 

 

Nano-Focus 엑스레이 검사장비

---

 

 

NF120 모델은 sub-micron 단위의 엑스레이 검사가 요구되는 반도체 패키징, 웨이퍼 레벨 패키징(WLP) 분야에 특화된 400나노급 나노 포커스 튜브 탑재 방식입니다.

석정반 베이스 상에 탑재된 고 분해능 구동축 제어를 통하여 불량 부위를 정확히 추적할 수 있으며, 제품의 불량 부위에 대한 초정밀 엑스레이 검사를 진행할 수 있습니다.

 

3D CT 모듈을 탑재할 경우 단층 분석도 가능하며, 웨이퍼 핸들러 장착을 통하여 웨이퍼 시료의 로딩부터 검사판독까지 자동으로 진행되는 Wafer Bump Auto Inspection도 가능합니다.

 

 

 

Applications

---

 

 

 

 

 

Specifications

---

 

 

---

 

쎄크의 산업용 엑스레이 검사기 X-eye NF120B 모델에 대해 알아보았습니다.
20년 이상의 노하우와 경험을 바탕으로 주식회사 쎄크는 새로운 기술을 지속적으로 개발해 나갈 생각입니다.

앞으로도 대한민국 최고의 검사장비 대표기업이 될 수 있도록 노력할테니 여러분들도 지켜봐주세요. 감사합니다!