주사전자현미경의 원리

"주사전자현미경의 원리"

 

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안녕하세요. 쎄크 입니다^^

오늘은 저희 쎄크에서 지속적으로 연구 개발되고 있는

SEM 즉 주사전자현미경이 어떤것이며 어떤 원리가 있는지

함께 알아보도록 하겠습니다.

 

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● SEM (주사전자현미경) 이란 무엇일까요?

SEM은 Scanning electron microscop의 약자로써

광학현미경에 비해 분해능력이 우수한 현미경을 말합니다.

 

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● SEM (주사전자현미경)의 원리

SEM의 원리는 투과형과 같이 시료 전체에 전자선을 쏘는 것이 아닌,

아주 작은 전자선으로 시료를 주사하고,

전자선을 쏜 좌표의 정보에서 상을 구성하여 표시합니다.

관찰 시료는 높은 진공상태에서

그 표면의 전계 및 자게에서 섞인 전자선으로 주사합니다.

주사는 직선적이지만 주사 축을 순차적으로 틀어가면서

시료 표면 전체의 정보를 얻는 방식입니다.

 

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● SEM (주사전자현미경)으로 어떤 정보를 얻을 수 있을까요?

주사전자현미경은 재표의 표면 현상, 적층 결함, 계면 등을

직접 관찰함에 따라 이들이 재료의 여러 성질들에 미치는 영향을

정확히 규명할 수 있는데요,

 

첫 번째, 물체의 표면의 형상을 관찰 할 수 있으며,

두 번째, 물체를 구성하는 입자들의 형상과 크기를 관찰할 수 있습니다.

세 번째, 물체를 구성하는 원소와 화합물의

종류 및 상대적인 양을 분석할 수 있습니다.

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