안녕하세요. 글로벌 정밀 제조, 검사 장비의 대표기업 쎄크입니다.
쎄크에서 지속적으로 연구개발되고 있는
SEM (주사전자현미경)이 무엇이며 어떤 원리를 갖고 있는지,
SEM (주사전자현미경)으로 어떤 정보를 얻을 수 있는지 살펴보겠습니다.
● SEM (주사전자현미경) 이란 무엇일까요?
SEM은 Scanning electron microscop의 약자로써
광학현미경에 비해 분해능력이 우수한 현미경을 말합니다.
● SEM (주사전자현미경)의 원리
SEM의 원리는 투과형과 같이 시료 전체에 전자선을 쏘는 것이 아닌,
아주 작은 전자선으로 시료를 주사하고,
전자선을 쏜 좌표의 정보에서 상을 구성하여 표시합니다.
관찰 시료는 높은 진공상태에서
그 표면의 전계 및 자게에서 섞인 전자선으로 주사합니다.
주사는 직선적이지만 주사 축을 순차적으로 틀어가면서
시료 표면 전체의 정보를 얻는 방식입니다.
● SEM (주사전자현미경)으로 어떤 정보를 얻을 수 있을까요?
주사전자현미경은 재표의 표면 현상, 적층 결함, 계면 등을
직접 관찰함에 따라 이들이 재료의 여러 성질들에 미치는 영향을
정확히 규명할 수 있는데요,
첫 번째, 물체의 표면의 형상을 관찰 할 수 있으며,
두 번째, 물체를 구성하는 입자들의 형상과 크기를 관찰할 수 있습니다.
세 번째, 물체를 구성하는 원소와 화합물의 종류 및 상대적인 양을 분석할 수 있습니다.
SEM (주사전자현미경)에 대한 궁금즘이 조금이나마 풀리셨는지 모르겠네요.
지금까지 쎄크와 함께 SEM (주사전자현미경)에 대해 알아보았습니다. 감사합니다.
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